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国星之光大讲堂第四期 | “LED失效分析技术及典型案例”精彩回顾

2021-08-02


失效分析是生产、研发和分析测试的重要技术,对提升产品质量具有重要意义。4月,国星之光大讲堂第二期“失效分析概论”专题课程开展后,引发起学员们对失效分析问题的积极探索与思考,反响热烈。为此,国星光电研究院征集了学员们在实际生产、研发和分析测试中面临的LED失效问题,进一步开展专门面向LED失效分析的专题授课,近日,国星之光大讲堂第四期——“LED失效分析技术及典型案例”如盼而至!

 

意犹未尽,再度深入LED失效分析

 

国星之光大讲堂第四期——“LED失效分析技术及典型案例”特邀工业和信息化部电子第五研究所分析中心材料可靠性工程部高分子材料项目负责人、正高级工程师徐焕翔专家作专题授课,课堂聚焦热点,剖析痛点,解决难点,干货满满。来自国星光电研究院、各事业部研发部门和质量部门的100余名国星学员齐聚一堂,再度掀起学习新热潮!

 

国星之光大讲堂



讲堂上,徐焕翔专家结合自身在LED常用材料的失效分析及失效机理研究和可靠性评价领域的丰富经验,鞭辟入里地讲述了LED结构材料及失效模式机理和LED失效分析技术及常用设备,并且结合实际LED失效案例分享了LED失效分析的方法,剖析了LED失效分析的原因。

 

积极发问,齐研共讨攻克难题

 

“请问静电孔损伤的定位分析手段有哪些?”


“请问显微镜下外观无异常的小漏电样品的漏电原因是什么?”


“请问微光显微镜的测试原理是什么,能否精准定位到微显示模组中的缺陷位置?”

 

学员们根据自身在研发、生产、分析测试中遇到的LED失效分析的实际问题和困难,与徐焕翔专家展开了深入的交流与探讨,徐焕翔专家结合自身学术研究和在LED失效分析领域的实践经历,进行了精彩的回答,进一步拓宽了学员们的学术视野。课程尾声,学员们意犹未尽,纷纷表示:“这次课程真的讲到自己的心坎上,直击痛点,拆解难点,收获颇丰!”、“回去定将今日所学应用于实践之中!”。



国星光电一直注重科技人才培养,始终致力深耕技术研究,切实推动技术成果转化及产业化进程,提升企业创新实力和综合竞争力。截止目前,国星光电已攻克了多项前沿核心技术和共性基础难题以支撑重大科技项目的实施,开展实施各级政府科研项目达150余项,其中省级以上80余项,已申请专利近千项,已授权专利近700项(含子企业),荣膺国家科技进步奖一等奖、国家科技进步奖二等奖、国家常识产权示范企业等多项荣誉。

 

未来,国星光电将持续提升自主创新能力,加强技术储备和人才储备,为提升我国品牌自主研发实力及国际竞争力贡献国星力量。

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